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低温透射电子显微镜(FEI Tecnai G2 F30 Twin)

简介:

配备先进的300kV高电压、场发射电子枪,电子束具备良好的相干性、较高亮度,具有物理分辨率高、电子穿透能力强和物镜场深等特点;另配备70度双倾斜样品台、电子直接成像相机及自动数据采集系统,适用于高分辨显微分析、单颗粒三维结构重建和细胞断层成像等研究。

用途:

高分辨率成像、单颗粒和低温断层三维重构研究、低温蛋白电子晶体学研究、亚纳米三维空间分辨率的显微分析等。

仪器照片:

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